基因組單分子光學圖譜是來源于單個DNA分子有序的全基因組限制性內切酶酶切位點圖譜。能提供宏觀的框架支持,反應整個基因組的結構信息。 BioNano全新的標記技術Direct Label and Stain(DLS),無需對基因組DNA進行酶切,無任何物理損傷,避免了fragile sites對基因組組裝長度的影響。相比原來BioNano的NLRS標記技術,可以獲得更長的光學圖譜reads。
BioNano Irys是BioNano第一代單分子基因組結構分析平臺,結合單酶切和熒光標記對DNA單分子線性化高分辨率成像,無PCR擴增所引入的系統誤差,保持DNA最真實的原始信息,兼容包括一代、二代及三代等各測序平臺的數據,讓基因組信息盡收眼底。

Saphyr是BioNano第二代單分子基因組結構分析平臺,該系統采用了與Irys相同的技術,在此基礎上擴大了通量, 并以更高的速度用以檢測和分析基因組的光學圖譜。并且Saphyr可以提供數據處理方案,自動進行數據分析,是一種更為高效和經濟的新一代圖譜繪制(Next-Generation Mapping,NGM)方案。




Saphyr 半導體芯片上有多達120,000個納米通道,經高清CCD對所有納米通道的DNA實時成像,每個flowcell可采集高達5T數據,軟件自動將圖片數據轉換成分子數據,最終組裝得到全基因組光學圖譜。
(1)基因組組裝糾錯
光學圖譜可以對Nanopore或PacBio測序拼接的Contig序列進行排序和定位,明確片段之間的gap大小,同時識別與糾正Contig組裝中潛在的錯誤連接,甚至可實現染色體水平組裝。
Hi-C技術可基于核內染色質交聯頻率的統計方法將Contig連接到染色體長度的Scaffold上。在Contig排序和定向上仍存在一定錯誤。Bionano光學圖譜可以幫助識別并糾正這些錯誤。
Bionano光學圖譜可以利用單分子熒光標記檢測結構變異,能特異性展示基因組真實結構,包括插入缺失、易位、倒位重復擴張、串聯重復等變異信息。相比傳統的結構變異檢測工具,如核型、FISH,Saphyr 擁有無可比擬的分辨率、全基因組覆蓋度,便捷的操作流程以及直觀的結果呈現,對結果變異領域的難點平衡易位和倒位可準確檢出。Saphyr檢測長度從500 bp到Mb不等的結構變異,并提供遠遠優(yōu)于基于測序技術的靈敏度的組裝和發(fā)現算法。